BSD-PS2型白炭黑比表面孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，

BSD-PS2型白炭，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。

BSD-PS2型炭黑孔體積分析儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。

BSD-PS2型氧化鋁孔體積分析儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。

BSD-PS型氧化鋁比表面孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。